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一种滤波结构、光学检测系统及光学检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510124578.6
申请日
:
2025-01-26
公开(公告)号
:
CN119555606A
公开(公告)日
:
2025-03-04
发明(设计)人
:
黄有为
陈允睿
陶陶
张龙
陈鲁
申请人
:
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301-14号101、102
IPC主分类号
:
G01N21/01
IPC分类号
:
G01N21/95
代理机构
:
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218
代理人
:
孙艳辉
法律状态
:
公开
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-03-04
公开
公开
2025-03-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20250126
共 50 条
[1]
一种滤波结构、光学检测系统及光学检测方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
陈鲁
;
黄有为
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
马凯
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
马凯
.
中国专利
:CN119555605A
,2025-03-04
[2]
一种滤波结构、光学检测系统及光学检测方法
[P].
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机构:
陈鲁
;
黄有为
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
马凯
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
马凯
.
中国专利
:CN119555605B
,2025-06-13
[3]
光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统
[P].
安比卡帕亚鲁木鲁甘
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安比卡帕亚鲁木鲁甘
;
徐敏堂
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徐敏堂
;
陆家樑
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陆家樑
;
方志恒
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方志恒
.
中国专利
:CN110658198A
,2020-01-07
[4]
光学检测系统及光学检测方法
[P].
柯俊宇
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柯俊宇
;
吴祖修
论文数:
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吴祖修
.
中国专利
:CN113176076A
,2021-07-27
[5]
光学检测系统及光学检测方法
[P].
龙文彬
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龙文彬
.
中国专利
:CN101275827A
,2008-10-01
[6]
光学检测方法及光学检测系统
[P].
高鸿飞
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高鸿飞
;
高琪
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高琪
;
陈广飞
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陈广飞
;
马纪艳
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马纪艳
.
中国专利
:CN106442540A
,2017-02-22
[7]
手术显微镜的光学检测系统及光学检测方法
[P].
于双双
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于双双
;
韩星
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韩星
;
张瑞旺
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张瑞旺
;
杨海娇
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杨海娇
;
孟军合
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孟军合
.
中国专利
:CN107314891A
,2017-11-03
[8]
一种小型光学检测系统及其检测方法
[P].
赵丹
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
赵丹
;
吴柯萱
论文数:
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
吴柯萱
.
中国专利
:CN119880347A
,2025-04-25
[9]
光学检测装置及光学检测系统
[P].
孔祥吉
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孔祥吉
;
杨永琦
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杨永琦
;
王晓飞
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王晓飞
;
姜海洋
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姜海洋
.
中国专利
:CN114184614A
,2022-03-15
[10]
光学检测装置、光学检测方法与光学检测系统
[P].
王亮舒
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王亮舒
;
杜明达
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杜明达
.
中国专利
:CN106546535A
,2017-03-29
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