光学检测系统及光学检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110464126.4
申请日
2021-04-26
公开(公告)号
CN113176076A
公开(公告)日
2021-07-27
发明(设计)人
柯俊宇 吴祖修
申请人
申请人地址
中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
G01B1124 G01N21958
代理机构
北京植德律师事务所 11780
代理人
唐华东
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P]. 
安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;
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[2]
光学检测系统及光学检测方法 [P]. 
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[3]
光学检测方法及光学检测系统 [P]. 
高鸿飞 ;
高琪 ;
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[4]
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[5]
光学检测方法、光学检测装置以及光学检测系统 [P]. 
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何涛 ;
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
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[10]
光学检测方法、系统及光学器件制造系统 [P]. 
谈顺毅 .
中国专利 :CN113218630B ,2024-02-13