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光学检测方法、系统及光学器件制造系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110461898.2
申请日：
2018-12-03
公开(公告)号：
CN113218630B
公开(公告)日：
2024-02-13
发明(设计)人：
谈顺毅
申请人：
江苏慧光电子科技有限公司
申请人地址：
215512 江苏省苏州市常熟市常熟经济技术开发区科创园1号楼401
IPC主分类号：
G01M11/02
IPC分类号：
代理机构：
上海段和段律师事务所 31334
代理人：
李佳俊;郭国中
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-02-13 授权 授权
共 50 条
[1]
光学检测方法、系统及光学器件制造系统 [P]. 
谈顺毅 .
中国专利 :CN113218630A ,2021-08-06
[2]
光学检测方法、系统及光学器件制造系统 [P]. 
谈顺毅 .
中国专利 :CN109520712B ,2019-03-26
[3]
光学检测系统及光学检测方法 [P]. 
柯俊宇 ;
吴祖修 .
中国专利 :CN113176076A ,2021-07-27
[4]
光学检测系统及光学检测方法 [P]. 
龙文彬 .
中国专利 :CN101275827A ,2008-10-01
[5]
光学检测方法及光学检测系统 [P]. 
高鸿飞 ;
高琪 ;
陈广飞 ;
马纪艳 .
中国专利 :CN106442540A ,2017-02-22
[6]
光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P]. 
安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;
徐敏堂 ;
陆家樑 ;
方志恒 .
中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07
[7]
光学检测系统以及光学检测方法 [P]. 
季迪 .
中国专利 :CN111157541A ,2020-05-15
[8]
光学检测方法与光学检测系统 [P]. 
陈煜达 .
中国专利 :CN118376389A ,2024-07-23
[9]
光学检测设备及光学器件制造设备 [P]. 
谈顺毅 .
中国专利 :CN211602365U ,2020-09-29
[10]
光学检测装置、光学检测方法与光学检测系统 [P]. 
王亮舒 ;
杜明达 .
中国专利 :CN106546535A ,2017-03-29
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