光学检测系统以及光学检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010037189.7
申请日
2020-01-14
公开(公告)号
CN111157541A
公开(公告)日
2020-05-15
发明(设计)人
季迪
申请人
申请人地址
230037 安徽省合肥市新站区魏武路与新蚌埠路交口西南角
IPC主分类号
G01N2195
IPC分类号
G01N2101
代理机构
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
娜拉
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
光学检测方法、光学检测装置以及光学检测系统 [P]. 
朱嘉 ;
何涛 ;
吴欢欢 .
中国专利 :CN106198567A ,2016-12-07
[2]
光学检测装置、光学检测方法与光学检测系统 [P]. 
王亮舒 ;
杜明达 .
中国专利 :CN106546535A ,2017-03-29
[3]
光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P]. 
安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;
徐敏堂 ;
陆家樑 ;
方志恒 .
中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07
[4]
光学检测系统及光学检测方法 [P]. 
柯俊宇 ;
吴祖修 .
中国专利 :CN113176076A ,2021-07-27
[5]
光学检测方法与光学检测系统 [P]. 
陈煜达 .
中国专利 :CN118376389A ,2024-07-23
[6]
光学检测系统及光学检测方法 [P]. 
龙文彬 .
中国专利 :CN101275827A ,2008-10-01
[7]
光学检测方法及光学检测系统 [P]. 
高鸿飞 ;
高琪 ;
陈广飞 ;
马纪艳 .
中国专利 :CN106442540A ,2017-02-22
[8]
光学检测系统以及方法 [P]. 
冯胜凯 ;
简宏达 ;
吴景仁 .
中国专利 :CN101676712A ,2010-03-24
[9]
光学检测装置以及光学检测系统 [P]. 
朱嘉 ;
何涛 ;
吴欢欢 .
中国专利 :CN204807475U ,2015-11-25
[10]
光学检测系统和光学检测方法、存储介质 [P]. 
邱啟东 .
中国专利 :CN112147112A ,2020-12-29