光学检测系统和光学检测方法、存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910576303.0
申请日
2019-06-28
公开(公告)号
CN112147112A
公开(公告)日
2020-12-29
发明(设计)人
邱啟东
申请人
申请人地址
518055 广东省深圳市南山区桃源街道留仙大道4093号南山云谷创新产业园南风楼2楼B
IPC主分类号
G01N2164
IPC分类号
G01N33543 G01N3358
代理机构
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
李庆波
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学检测方法与光学检测系统 [P]. 
陈煜达 .
中国专利 :CN118376389A ,2024-07-23
[2]
光学检测系统、方法、设备和存储介质 [P]. 
汪远 ;
褚浩宇 ;
柏志飞 ;
陆辉 .
中国专利 :CN115406864A ,2022-11-29
[3]
光学检测装置、光学检测方法与光学检测系统 [P]. 
王亮舒 ;
杜明达 .
中国专利 :CN106546535A ,2017-03-29
[4]
光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P]. 
安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;
徐敏堂 ;
陆家樑 ;
方志恒 .
中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07
[5]
光学检测方法、光学检测装置以及光学检测系统 [P]. 
朱嘉 ;
何涛 ;
吴欢欢 .
中国专利 :CN106198567A ,2016-12-07
[6]
光学检测方法和光学检测装置 [P]. 
大卫·K·梅福德 ;
罗伯特·A·史密斯 ;
约翰·R·洛厄尔 .
美国专利 :CN111323386B ,2024-04-19
[7]
光学检测方法和光学检测装置 [P]. 
大卫·K·梅福德 ;
罗伯特·A·史密斯 ;
约翰·R·洛厄尔 .
中国专利 :CN111323386A ,2020-06-23
[8]
光学检测系统及光学检测方法 [P]. 
柯俊宇 ;
吴祖修 .
中国专利 :CN113176076A ,2021-07-27
[9]
光学检测系统以及光学检测方法 [P]. 
季迪 .
中国专利 :CN111157541A ,2020-05-15
[10]
光学检测系统及光学检测方法 [P]. 
龙文彬 .
中国专利 :CN101275827A ,2008-10-01