基于短光纤循环自外差法的激光器线宽测量系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311068277.3

申请日：

2023-08-23

公开(公告)号：

CN119509913A

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

王祎明谢亮龚萍周健

申请人：

中国科学院半导体研究所

申请人地址：

100083 北京市海淀区清华东路甲35号

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

肖慧

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-25	公开	公开
2025-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20230823

共 50 条

[1]

基于光纤延时自外差法的测量窄线宽激光器线宽装置及其测量方法 [P].

欧攀 ;

贾豫东 ;

张春熹 ;

冯迪 ;

胡姝玲 ;

曹彬 .

中国专利 :CN101201243A ,2008-06-18

[2]

一种基于循环自外差法测量激光器线宽的装置及方法 [P].

高静 ;

刘杰 ;

刘涛 ;

焦东东 ;

邓雪 ;

臧琦 ;

张翔 ;

王丹 ;

张首刚 .

中国专利 :CN111537200A ,2020-08-14

[3]

基于循环自外差干涉法的精密测量激光线宽装置及方法 [P].

高静 ;

陈玖朋 ;

焦东东 ;

刘杰 ;

董瑞芳 ;

刘涛 ;

张首刚 .

中国专利 :CN105699053B ,2016-06-22

[4]

一种基于神经网络拟合的短光纤延时自外差线宽测量系统及方法 [P].

段利红 ;

刘清波 ;

全伟 ;

刘刚 .

中国专利 :CN120869552A ,2025-10-31

[5]

基于延时自外差法测量852nm半导体激光器超窄线宽测试系统 [P].

关宝璐 ;

杨嘉炜 ;

潘冠中 ;

刘振扬 ;

李鹏涛 .

中国专利 :CN105758626A ,2016-07-13

[6]

一种集成长、短延迟自外差拍频的激光线宽测试系统 [P].

汲煜佳 ;

杨学宗 ;

朱成杰 ;

温昕宇 ;

陈迪俊 .

中国专利 :CN222938712U ,2025-06-03

[7]

基于光电反馈的短延时激光器线宽测量系统及其测量方法 [P].

唐禹 ;

胡昆智 ;

宁奖 ;

晏芸 .

中国专利 :CN106092519A ,2016-11-09

[8]

基于光源自外差相干的线宽测试系统 [P].

戴武涛 ;

张健 .

中国专利 :CN209356068U ,2019-09-06

[9]

窄线宽激光器线宽高精度测量系统 [P].

吕亮 ;

张文华 ;

杜正婷 ;

向荣 ;

杨波 ;

吴爽 ;

邓涵元 ;

赵力杰 ;

曹志刚 ;

刘宇 ;

俞本立 .

中国专利 :CN203719878U ,2014-07-16

[10]

窄线宽激光器线宽高精度测量系统 [P].

吕亮 ;

张文华 ;

杜正婷 ;

向荣 ;

杨波 ;

吴爽 ;

邓涵元 ;

赵力杰 ;

曹志刚 ;

刘宇 ;

俞本立 .

中国专利 :CN103674497A ,2014-03-26

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