一种集成长、短延迟自外差拍频的激光线宽测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421229708.X

申请日：

2024-05-31

公开(公告)号：

CN222938712U

公开(公告)日：

2025-06-03

发明(设计)人：

汲煜佳杨学宗朱成杰温昕宇陈迪俊

申请人：

国科大杭州高等研究院

申请人地址：

310024 浙江省杭州市西湖区象山支弄1号

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100

代理人：

邓世凤

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-03	授权	授权

共 50 条

[1]

基于光源自外差相干的线宽测试系统 [P].

戴武涛 ;

张健 .

中国专利 :CN209356068U ,2019-09-06

[2]

基于循环自外差干涉法的精密测量激光线宽装置及方法 [P].

高静 ;

陈玖朋 ;

焦东东 ;

刘杰 ;

董瑞芳 ;

刘涛 ;

张首刚 .

中国专利 :CN105699053B ,2016-06-22

[3]

基于短光纤循环自外差法的激光器线宽测量系统及方法 [P].

王祎明 ;

谢亮 ;

龚萍 ;

周健 .

中国专利 :CN119509913A ,2025-02-25

[4]

一种激光线宽测量系统 [P].

陈超 ;

罗曦晨 ;

王彪 ;

秦莉 ;

宁永强 ;

王立军 .

中国专利 :CN110081974A ,2019-08-02

[5]

一种采用循环延时自外差结构的激光线宽测量装置 [P].

王东东 ;

李力 .

中国专利 :CN108760251A ,2018-11-06

[6]

一种基于短光纤延时自外差干涉的窄激光线宽测量方法 [P].

姬中华 ;

吴利锦 ;

赵延霆 .

中国专利 :CN117538021A ,2024-02-09

[7]

基于延时自外差法测量852nm半导体激光器超窄线宽测试系统 [P].

关宝璐 ;

杨嘉炜 ;

潘冠中 ;

刘振扬 ;

李鹏涛 .

中国专利 :CN105758626A ,2016-07-13

[8]

一种基于循环自外差法测量激光器线宽的装置及方法 [P].

高静 ;

刘杰 ;

刘涛 ;

焦东东 ;

邓雪 ;

臧琦 ;

张翔 ;

王丹 ;

张首刚 .

中国专利 :CN111537200A ,2020-08-14

[9]

一种基于延迟自外差的宽带混沌信号产生装置及方法 [P].

陈文鑫 ;

周沛 ;

王厚林 ;

王凯 ;

李念强 .

中国专利 :CN119420612B ,2025-04-25

[10]

一种基于延迟自外差的宽带混沌信号产生装置及方法 [P].

陈文鑫 ;

周沛 ;

王厚林 ;

王凯 ;

李念强 .

中国专利 :CN119420612A ,2025-02-11

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