接口测试方法、服务装置、电子设备、存储介质及产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411801365.4

申请日：

2024-12-09

公开(公告)号：

CN119496721A

公开(公告)日：

2025-02-21

发明(设计)人：

王维科

申请人：

杭州和利时自动化有限公司

申请人地址：

310018 浙江省杭州市江干区杭州经济技术开发区12号大街M10-15-7地块

IPC主分类号：

H04L43/0805

IPC分类号：

H04L43/50 H04L67/02 H04L69/22

代理机构：

北京布瑞知识产权代理有限公司 11505

代理人：

李强

法律状态：

公开

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-21	公开	公开
2025-03-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04L 43/0805申请日:20241209

共 50 条

[1]

服务接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

罗秉安 ;

连煜伟 ;

邹大卫 ;

蔡晓惠 .

中国专利 :CN112905459B ,2024-05-03

[2]

服务接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

罗秉安 ;

连煜伟 ;

邹大卫 ;

蔡晓惠 .

中国专利 :CN112905459A ,2021-06-04

[3]

接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈锐 ;

王阳 ;

张银红 ;

孙江凡 .

中国专利 :CN113760687A ,2021-12-07

[4]

接口测试方法、接口测试装置、电子设备及存储介质 [P].

陈宇 ;

张绪强 ;

兰艳 ;

白鑫贝 ;

王耀威 ;

郑清芳 ;

熊雪菲 ;

袁锦宇 .

中国专利 :CN121029586A ,2025-11-28

[5]

接口测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

闫培丽 .

中国专利 :CN118567985A ,2024-08-30

[6]

接口测试方法及装置、电子设备、存储介质、程序产品 [P].

周章玲 .

中国专利 :CN118656293A ,2024-09-17

[7]

接口测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

谢莹 .

中国专利 :CN119829436A ,2025-04-15

[8]

接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陆帅忠 ;

李秋林 .

中国专利 :CN112148601A ,2020-12-29

[9]

接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

钱玉东 .

中国专利 :CN117724970A ,2024-03-19

[10]

接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李泽鹏 .

中国专利 :CN110569194A ,2019-12-13

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