一种光谱测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202420367388.8
申请日
2024-02-28
公开(公告)号
CN222529213U
公开(公告)日
2025-02-25
发明(设计)人
王宏 周飞 程亮
申请人
立穹(上海)光电科技有限公司
申请人地址
201900 上海市宝山区真陈路1000号1幢418-H0017室
IPC主分类号
G01N21/01
IPC分类号
G01N21/55 G01N21/59 G01N21/65
代理机构
北京华仁联合知识产权代理有限公司 11588
代理人
张欢
法律状态
授权
国省代码
上海市 市辖区
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共 50 条
[1]
光谱测试装置 [P]. 
孔莉俊 .
中国专利 :CN208736556U ,2019-04-12
[2]
一种光谱仪测试装置 [P]. 
谢同健 ;
陈捷 ;
韩俊俊 .
中国专利 :CN216668999U ,2022-06-03
[3]
一种COC芯片光谱测试装置 [P]. 
张振峰 ;
杨国良 ;
邱德明 .
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[4]
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[5]
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刘荣华 .
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[6]
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孙一平 ;
赵启龙 ;
娄文静 ;
阴俊 .
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[7]
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[8]
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华道柱 ;
石晶 .
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[9]
一种多模式光谱测试装置 [P]. 
马恩 .
中国专利 :CN111337439A ,2020-06-26
[10]
一种荧光高光谱测试装置 [P]. 
郑高峰 ;
陈砺锴 .
中国专利 :CN118329778B ,2024-09-10