一种荧光高光谱测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410749073.4
申请日
2024-06-12
公开(公告)号
CN118329778A
公开(公告)日
2024-07-12
发明(设计)人
郑高峰 陈砺锴
申请人
厦门大学
申请人地址
361000 福建省厦门市思明区思明南路422号
IPC主分类号
G01N21/01
IPC分类号
G01N21/64
代理机构
厦门市宽信知识产权代理有限公司 35246
代理人
李伊飏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
一种荧光高光谱测试装置 [P]. 
郑高峰 ;
陈砺锴 .
中国专利 :CN118329778B ,2024-09-10
[2]
一种光谱仪测试装置 [P]. 
谢同健 ;
陈捷 ;
韩俊俊 .
中国专利 :CN216668999U ,2022-06-03
[3]
一种光谱测试装置 [P]. 
王宏 ;
周飞 ;
程亮 .
中国专利 :CN222529213U ,2025-02-25
[4]
一种荧光光谱的测试装置 [P]. 
薛占强 ;
郭翠 ;
潘奕 .
中国专利 :CN211292589U ,2020-08-18
[5]
一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法 [P]. 
薛占强 ;
郭翠 ;
潘奕 .
中国专利 :CN110579458A ,2019-12-17
[6]
一种透过荧光测试装置 [P]. 
李子萱 ;
邹传超 ;
倪亚茹 ;
陆春华 .
中国专利 :CN119044123A ,2024-11-29
[7]
一种荧光光谱的测试装置及测试方法 [P]. 
薛占强 ;
郭翠 ;
潘奕 .
中国专利 :CN109490271A ,2019-03-19
[8]
一种COC芯片光谱测试装置 [P]. 
张振峰 ;
杨国良 ;
邱德明 .
中国专利 :CN211905578U ,2020-11-10
[9]
一种光谱测试装置及方法 [P]. 
颜凯 ;
鹿堃 ;
王贺陶 ;
布占场 .
中国专利 :CN103217218B ,2013-07-24
[10]
一种多模式光谱测试装置 [P]. 
马恩 .
中国专利 :CN212301305U ,2021-01-05