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光学スペクトル測定システムおよび光学スペクトル測定方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20220000082
申请日：
2022-01-04
公开(公告)号：
JP7638233B2
公开(公告)日：
2025-03-03
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01J3/36
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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