共 50 条
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スペクトル測定装置、およびスペクトル測定方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20210548074
申请日：
2019-09-26
公开(公告)号：
JP7276475B2
公开(公告)日：
2023-05-18
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01J3/45
IPC分类号：
G01J3/02
G01N21/27
G01N21/35
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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