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移動体用スペクトル測定装置および移動体用スペクトル測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20120507208
申请日
:
2010-07-30
公开(公告)号
:
JPWO2012014327A1
公开(公告)日
:
2013-09-09
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/27
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
スペクトル測定装置、およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7276475B2
,2023-05-18
[2]
スペクトル測定装置およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7275016B2
,2023-05-17
[3]
スペクトル測定装置およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7174952B2
,2022-11-18
[4]
中性子スペクトル測定装置および中性子スペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7429124B2
,2024-02-07
[5]
中性子スペクトル測定装置および中性子スペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7132787B2
,2022-09-07
[6]
スペックル測定装置およびスペックル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6852730B2
,2021-03-31
[7]
スペックル測定装置およびスペックル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017175470A1
,2019-02-14
[8]
光学スペクトル測定システムおよび光学スペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7638233B2
,2025-03-03
[9]
光学スペクトル測定システムおよび光学スペクトル測定方法[ja]
[P].
MAEDA GORO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
OTSUKA DENSHI CO LTD
MAEDA GORO
.
日本专利
:JP2022033250A
,2022-02-28
[10]
スペクトル測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5637358B2
,2014-12-10
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