老化测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420654023.3

申请日：

2024-04-01

公开(公告)号：

CN222599785U

公开(公告)日：

2025-03-11

发明(设计)人：

于勤超刘任峰张琦杰戴晨阳

申请人：

长迈半导体（成都）有限公司

申请人地址：

611730 四川省成都市高新区合顺路2号5栋1-5层1、2号（自编号）

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 H05K7/20

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250

代理人：

陈靖康

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-11	授权	授权

共 50 条

[1]

老化测试设备 [P].

姚金广 .

中国专利 :CN223597828U ,2025-11-25

[2]

老化测试设备 [P].

于洪懿 ;

范振东 ;

赵佳明 ;

王星 .

中国专利 :CN211826301U ,2020-10-30

[3]

老化测试设备 [P].

赵德喜 ;

谭冬平 .

中国专利 :CN309461698S ,2025-08-26

[4]

老化测试设备 [P].

赵玉伟 ;

戴留兴 ;

李勇 ;

陈日宝 .

中国专利 :CN117969994A ,2024-05-03

[5]

老化测试设备 [P].

李义元 ;

崔永培 .

中国专利 :CN103293456B ,2013-09-11

[6]

老化测试设备 [P].

李小丹 .

中国专利 :CN221610243U ,2024-08-27

[7]

老化测试设备 [P].

胡方凡 ;

童仲尧 ;

翁凌熠 ;

陈小平 ;

于勤超 ;

高阳 .

中国专利 :CN222748660U ,2025-04-11

[8]

老化测试设备 [P].

胡盛俊 ;

戴明 ;

陈庚福 ;

赖月华 ;

廖颖波 ;

王吉浩 .

中国专利 :CN304508851S ,2018-02-16

[9]

老化测试设备 [P].

黄麦多 ;

邹坤 .

中国专利 :CN202854256U ,2013-04-03

[10]

老化测试设备 [P].

高光辉 ;

姚金广 ;

李康海 .

中国专利 :CN223123176U ,2025-07-18

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