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一种基于温度响应的芯片测试方法及测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510052302.1
申请日：
2025-01-14
公开(公告)号：
CN119471327B
公开(公告)日：
2025-03-25
发明(设计)人：
薛冰
申请人：
安盈半导体技术（常州）有限公司
申请人地址：
213000 江苏省常州市新北区华山中路9号五号楼118
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
杭州研基专利代理事务所(普通合伙) 33389
代理人：
严露
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省
常州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-03-07 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250114 |
| 2025-03-25 | 授权 | 授权 |
| 2025-02-18 | 公开 | 公开 |