光运算装置、光运算装置的学习方法以及光运算装置的制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380057115.1
申请日
2023-05-26
公开(公告)号
CN119631085A
公开(公告)日
2025-03-14
发明(设计)人
日下裕幸 柏木正浩
申请人
株式会社藤仓
申请人地址
日本
IPC主分类号
G06N3/067
IPC分类号
G02F1/09 G02F1/13 G02F3/00 G06E3/00 G06N3/09
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
邰琳琳
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光运算装置 [P]. 
浅冈瞬 ;
日下裕幸 ;
柏木正浩 ;
大竹守 .
日本专利 :CN119563137A ,2025-03-04
[2]
光运算装置 [P]. 
日下裕幸 ;
柏木正浩 .
中国专利 :CN115605823A ,2023-01-13
[3]
光掩模和光掩模坯以及光掩模的制造方法 [P]. 
山田慎吾 ;
森山久美子 ;
美作昌宏 .
中国专利 :CN108693697B ,2018-10-23
[4]
图案检查方法、光掩模检查装置、光掩模的制造方法 [P]. 
尾崎太一 .
中国专利 :CN112578631A ,2021-03-30
[5]
图案检查方法、光掩模检查装置、光掩模的制造方法 [P]. 
尾崎太一 .
日本专利 :CN112578631B ,2025-06-20
[6]
光部件的制造方法和光部件 [P]. 
长能重博 ;
盐崎学 ;
荒生肇 ;
中西哲也 .
日本专利 :CN118215862A ,2024-06-18
[7]
光源装置以及投光装置 [P]. 
深草雅春 .
中国专利 :CN110418917A ,2019-11-05
[8]
光源装置以及投光装置 [P]. 
深草雅春 .
中国专利 :CN108027118A ,2018-05-11
[9]
光产生装置、具备光产生装置的曝光装置、曝光系统、光产生方法及曝光光致抗蚀剂制造方法 [P]. 
坂本盛嗣 ;
野田浩平 ;
膝附拓也 ;
小野浩司 ;
川月喜弘 ;
后藤耕平 ;
筒井皇晶 .
中国专利 :CN111356957A ,2020-06-30
[10]
光检测方法、光检测装置和程序 [P]. 
森田宽 ;
鸟羽一彰 ;
山本真也 ;
上田健二朗 ;
高桥辽平 .
中国专利 :CN110168310B ,2019-08-23