一种芯片外观测试机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421388279.0

申请日：

2024-06-18

公开(公告)号：

CN222635536U

公开(公告)日：

2025-03-18

发明(设计)人：

杨玲波陈海雅单建江

申请人：

宁波圣梵电气科技有限公司

申请人地址：

315000 浙江省宁波市杭州湾新区慈溪出口加工区E4号一层D区标准厂房

IPC主分类号：

G01D21/02

IPC分类号：

G01D11/00 G01D11/30

代理机构：

上海济物知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31526

代理人：

施欣

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-18	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机 [P].

张爱林 .

中国专利 :CN223107976U ,2025-07-15

[2]

一种芯片烧录测试机构 [P].

韩烨 .

中国专利 :CN221595635U ,2024-08-23

[3]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[4]

一种芯片测试机构 [P].

吴学军 ;

蒋卫兵 .

中国专利 :CN118091372A ,2024-05-28

[5]

一种检测芯片胶体破损耐压测试机构 [P].

卓维煌 ;

黄天鹏 ;

孙文杰 .

中国专利 :CN119902058A ,2025-04-29

[6]

一种芯片测试机的调整机构 [P].

杨荣辉 ;

陆小艺 .

中国专利 :CN222506383U ,2025-02-18

[7]

一种基于芯片测试机的微调机构 [P].

陈荣峰 .

中国专利 :CN215449363U ,2022-01-07

[8]

一种智能卡芯片测试机 [P].

舒世云 .

中国专利 :CN218099291U ,2022-12-20

[9]

一种芯片震动测试机 [P].

单建江 ;

杨玲波 ;

陈海雅 .

中国专利 :CN222704303U ,2025-04-01

[10]

芯片测试机构及测试机 [P].

张磊 ;

陈波 .

中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24

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