一种检测芯片胶体破损耐压测试机构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510162212.8

申请日：

2025-02-14

公开(公告)号：

CN119902058A

公开(公告)日：

2025-04-29

发明(设计)人：

卓维煌黄天鹏孙文杰

申请人：

深圳赛腾昌鼎半导体电子有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明区凤凰街道甲子塘社区第二工业区2号C栋403

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/12

代理机构：

东莞领航汇专利代理事务所(普通合伙) 44645

代理人：

汪洋

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-29	公开	公开
2025-05-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250214

共 50 条

[1]

一种芯片外观测试机构 [P].

杨玲波 ;

陈海雅 ;

单建江 .

中国专利 :CN222635536U ,2025-03-18

[2]

一种芯片测试机构 [P].

吴学军 ;

蒋卫兵 .

中国专利 :CN118091372A ,2024-05-28

[3]

一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机 [P].

张爱林 .

中国专利 :CN223107976U ,2025-07-15

[4]

一种芯片测试机 [P].

许根泉 ;

乐磊 ;

牛冠群 ;

殷争光 .

中国专利 :CN117741405A ,2024-03-22

[5]

一种芯片烧录测试机构 [P].

韩烨 .

中国专利 :CN221595635U ,2024-08-23

[6]

电缆耐压测试机构 [P].

钱志峰 ;

陈竞茹 ;

陶梦婷 .

中国专利 :CN221650515U ,2024-09-03

[7]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[8]

一种灯泡耐压测试机 [P].

黄龙富 .

中国专利 :CN102269670B ,2011-12-07

[9]

一种绝缘耐压测试机 [P].

张涛 ;

郭庆明 ;

杨震 ;

陈豫川 ;

袁勇军 ;

王成 ;

钟权 .

中国专利 :CN222379819U ,2025-01-21

[10]

一种灯泡耐压测试机 [P].

黄龙富 .

中国专利 :CN202210056U ,2012-05-02

← 1 2 3 4 5 →