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集成电路芯片测试系统及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910850832.5
申请日：
2019-09-09
公开(公告)号：
CN110456257B
公开(公告)日：
2025-04-01
发明(设计)人：
张悦
申请人：
悦芯科技股份有限公司
申请人地址：
230000 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人：
刘亚飞
法律状态：
授权
国省代码：
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-01 授权 授权
共 50 条
[1]
集成电路芯片测试系统及方法 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN110456257A ,2019-11-15
[2]
集成电路芯片测试系统 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN210665952U ,2020-06-02
[3]
集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质 [P]. 
邢广军 .
中国专利 :CN119596101B ,2025-08-08
[4]
集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质 [P]. 
邢广军 .
中国专利 :CN119596101A ,2025-03-11
[5]
一种集成电路芯片功能测试系统及方法 [P]. 
于满余 .
中国专利 :CN117491847A ,2024-02-02
[6]
记忆体测试电路及方法、集成电路芯片测试系统 [P]. 
李垣杰 ;
陆天辰 .
中国专利 :CN110888037B ,2025-05-09
[7]
记忆体测试电路及方法、集成电路芯片测试系统 [P]. 
李垣杰 ;
陆天辰 .
中国专利 :CN110888037A ,2020-03-17
[8]
测试控制电路及方法、集成电路芯片测试电路 [P]. 
黄泽群 .
中国专利 :CN111103523A ,2020-05-05
[9]
记忆体测试电路和集成电路芯片测试系统 [P]. 
李垣杰 ;
陆天辰 .
中国专利 :CN208833882U ,2019-05-07
[10]
一种集成电路芯片测试设备 [P]. 
林创光 ;
陈锐 ;
徐俊亮 .
中国专利 :CN119334973A ,2025-01-21
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