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记忆体测试电路及方法、集成电路芯片测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201811051015.5
申请日：
2018-09-10
公开(公告)号：
CN110888037B
公开(公告)日：
2025-05-09
发明(设计)人：
李垣杰 陆天辰
申请人：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址：
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-09 授权 授权
共 50 条
[1]
记忆体测试电路及方法、集成电路芯片测试系统 [P]. 
李垣杰 ;
陆天辰 .
中国专利 :CN110888037A ,2020-03-17
[2]
记忆体测试电路和集成电路芯片测试系统 [P]. 
李垣杰 ;
陆天辰 .
中国专利 :CN208833882U ,2019-05-07
[3]
测试控制电路及方法、集成电路芯片测试电路 [P]. 
黄泽群 .
中国专利 :CN111103523A ,2020-05-05
[4]
集成电路测试系统及测试方法 [P]. 
顾良波 ;
张志勇 ;
余琨 ;
王锦 ;
叶建明 ;
郝丹丹 .
中国专利 :CN103777131A ,2014-05-07
[5]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P]. 
徐正元 .
中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02
[6]
集成电路芯片测试系统及方法 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN110456257B ,2025-04-01
[7]
集成电路芯片测试系统及方法 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN110456257A ,2019-11-15
[8]
集成电路芯片测试系统 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN210665952U ,2020-06-02
[9]
测试控制电路和集成电路芯片测试电路 [P]. 
黄泽群 .
中国专利 :CN209086390U ,2019-07-09
[10]
集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P]. 
张晓磊 .
中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01
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