一种系统测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411954709.5

申请日：

2024-12-27

公开(公告)号：

CN119759786A

公开(公告)日：

2025-04-04

发明(设计)人：

王胜园赵黄健王亚南金勇

申请人：

南京北路智控科技股份有限公司

申请人地址：

211161 江苏省南京市江宁滨江经济开发区宝象路50号

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

G06F11/22 G06F11/26

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

王育玉

法律状态：

公开

国省代码：

河北省衡水市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-04	公开	公开
2025-04-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20241227

共 50 条

[1]

一种系统测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宋继兵 .

中国专利 :CN115827482B ,2025-10-10

[2]

一种系统测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙林 ;

董亚飞 .

中国专利 :CN115344498A ,2022-11-15

[3]

一种系统测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

祁晓光 ;

李标 .

中国专利 :CN111881014B ,2020-11-03

[4]

一种系统测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵佳萌 ;

熊军军 ;

陈星 ;

查杰睿 ;

任晓贤 .

中国专利 :CN112486808B ,2024-04-16

[5]

一种系统测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵佳萌 ;

熊军军 ;

陈星 ;

查杰睿 ;

任晓贤 .

中国专利 :CN112486808A ,2021-03-12

[6]

测试方法、测试系统、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙宏超 ;

任东锋 ;

赵小庆 .

中国专利 :CN120104463A ,2025-06-06

[7]

测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

王青权 ;

郭飞 ;

姜帆 ;

李滕浩 ;

杜君 ;

孟伟 ;

范乃冲 ;

陈建卫 ;

段永亮 ;

徐可 ;

陈泳鑫 .

中国专利 :CN118535397A ,2024-08-23

[8]

测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

王青权 ;

郭飞 ;

姜帆 ;

李滕浩 ;

杜君 ;

孟伟 ;

范乃冲 ;

陈建卫 ;

段永亮 ;

徐可 ;

陈泳鑫 .

中国专利 :CN118535397B ,2025-08-22

[9]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

万志强 .

中国专利 :CN119739618A ,2025-04-01

[10]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈昊 ;

郑明成 ;

贾占杰 .

中国专利 :CN118012381A ,2024-05-10

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