系统测试方法、系统测试装置、设备、存储介质和产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411861337.1

申请日：

2024-12-17

公开(公告)号：

CN119718943A

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

夏娟王晓舟张博王晴

申请人：

中国工商银行股份有限公司

申请人地址：

100140 北京市西城区复兴门内大街55号

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

G06F18/214 G06F18/2111

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

王雨

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20241217
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

系统测试方法、装置、设备、介质和程序产品 [P].

赵亮 .

中国专利 :CN119718944A ,2025-03-28

[2]

系统测试方法、系统测试装置、电子设备、存储介质 [P].

张帆 ;

徐建华 ;

张阳正 .

中国专利 :CN115495349A ,2022-12-20

[3]

环视系统测试方法及装置、测试装置和存储介质 [P].

翟跃 ;

梁斌 .

中国专利 :CN115470098A ,2022-12-13

[4]

测试方法、测试装置、存储介质和程序产品 [P].

杨远君 ;

任艳 ;

欧月华 .

中国专利 :CN118408718A ,2024-07-30

[5]

一种测试方法、测试装置、测试设备、存储介质和系统 [P].

刘政 ;

吴伟 ;

曹涛 ;

年秋实 ;

张佩珊 .

中国专利 :CN116055344B ,2024-11-29

[6]

加速老化测试方法、测试装置、测试系统和存储介质 [P].

胡灿 ;

黄界增 .

中国专利 :CN118671582A ,2024-09-20

[7]

测试系统、测试方法、测试装置及存储介质 [P].

张洲川 .

中国专利 :CN109298266B ,2019-02-01

[8]

系统测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

李久春 ;

陈维 .

中国专利 :CN118820105A ,2024-10-22

[9]

系统测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

李久春 ;

陈维 .

中国专利 :CN118820105B ,2025-12-12

[10]

信号测试装置、系统、方法和存储介质 [P].

姜红兵 ;

郭燕慧 ;

谢勇 ;

黄建新 ;

邹小兵 ;

聂华 .

中国专利 :CN114205010B ,2024-04-26

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