加速老化测试方法、测试装置、测试系统和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310351001.X

申请日：

2023-03-29

公开(公告)号：

CN118671582A

公开(公告)日：

2024-09-20

发明(设计)人：

胡灿黄界增

申请人：

闻泰通讯股份有限公司

申请人地址：

314006 浙江省嘉兴市南湖区亚中路777号（嘉兴科技城）

IPC主分类号：

G01R31/34

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

北京景闻知识产权代理有限公司 11742

代理人：

李芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

山东省青岛市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/34申请日:20230329
2024-09-20	公开	公开

共 50 条

[1]

测试系统、测试方法、测试装置及存储介质 [P].

张洲川 .

中国专利 :CN109298266B ,2019-02-01

[2]

测试方法、测试装置、存储介质、测试系统和机器人 [P].

彭宗虎 .

中国专利 :CN115420302A ,2022-12-02

[3]

测试方法、测试装置和存储介质 [P].

丁宇 .

中国专利 :CN110262933A ,2019-09-20

[4]

硬件在环测试方法、测试装置、测试系统和可读存储介质 [P].

黄礼 ;

钟日敏 ;

邵杰 ;

杨一琴 ;

陈显福 .

中国专利 :CN113589787A ,2021-11-02

[5]

老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统 [P].

李坤 ;

徐勋明 ;

夏建平 ;

李小明 ;

余义江 .

中国专利 :CN216350966U ,2022-04-19

[6]

转子测试方法、测试装置、测试系统及可读存储介质 [P].

方雯 ;

成双立 ;

李海峰 ;

李伟 .

中国专利 :CN115468754A ,2022-12-13

[7]

电缆老化测试装置和电缆老化测试方法 [P].

冯宾 ;

赵林杰 ;

贾磊 ;

傅明利 ;

樊灵孟 ;

郭强 ;

黄小卫 ;

卢青针 ;

朱闻博 ;

侯帅 ;

蔡驰 ;

陈云 ;

惠宝军 ;

岑贞锦 ;

柳杰 ;

曾开宇 ;

英玺蓬 ;

张维佳 .

中国专利 :CN120610122A ,2025-09-09

[8]

老化设备测试装置及其测试方法、测试系统 [P].

万钧 ;

方小鑫 ;

陈阳 ;

程亮 ;

刘升全 ;

吕桃龙 ;

刘昱兵 .

中国专利 :CN119916172A ,2025-05-02

[9]

接口扩展模组、老化测试系统、老化测试方法及存储介质 [P].

汝峰 ;

徐晓东 ;

裴聪健 ;

冯宇飞 .

中国专利 :CN108919006A ,2018-11-30

[10]

测试方法、测试装置、测试系统、服务器以及存储介质 [P].

余洋洋 ;

李丙伦 ;

朱林森 .

中国专利 :CN114880170A ,2022-08-09

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