测试方法、测试装置和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910199403.6

申请日：

2015-09-10

公开(公告)号：

CN110262933A

公开(公告)日：

2019-09-20

发明(设计)人：

丁宇

申请人：

申请人地址：

英属开曼群岛大开曼资本大厦一座四层847号邮箱

IPC主分类号：

G06F1126

IPC分类号：

H04L2908

代理机构：

北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11452

代理人：

屠长存

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/26 申请日:20150910
2019-09-20	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、测试装置、存储介质和程序产品 [P].

杨远君 ;

任艳 ;

欧月华 .

中国专利 :CN118408718A ,2024-07-30

[2]

测试方法、测试装置、测试终端设备和存储介质 [P].

王晟皓 ;

顾春阳 ;

张晓晨 ;

张何 .

中国专利 :CN117590135A ,2024-02-23

[3]

失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵哲 ;

吴耆贤 .

中国专利 :CN115458025A ,2022-12-09

[4]

加速老化测试方法、测试装置、测试系统和存储介质 [P].

胡灿 ;

黄界增 .

中国专利 :CN118671582A ,2024-09-20

[5]

失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵哲 ;

吴耆贤 .

中国专利 :CN115458025B ,2025-10-14

[6]

测试装置、测试设备、测试方法及存储介质 [P].

徐熊 ;

雷震宇 ;

唐知华 ;

丁蕾 ;

贺舒杰 .

中国专利 :CN120808857A ,2025-10-17

[7]

测试系统、测试方法、测试装置及存储介质 [P].

张洲川 .

中国专利 :CN109298266B ,2019-02-01

[8]

模组测试装置及方法、测试设备和存储介质 [P].

黄清云 ;

徐昊舒 .

中国专利 :CN117632603A ,2024-03-01

[9]

测试方法、测试装置、电子设备和存储介质 [P].

夏仕钦 .

中国专利 :CN118051422A ,2024-05-17

[10]

测试方法、测试装置、服务器和存储介质 [P].

邓站兵 ;

赵悦 ;

梁细坚 .

中国专利 :CN113687223A ,2021-11-23

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