模组测试装置及方法、测试设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202210982506.1
申请日
2022-08-16
公开(公告)号
CN117632603A
公开(公告)日
2024-03-01
发明(设计)人
黄清云 徐昊舒
申请人
中移物联网有限公司 中国移动通信集团有限公司
申请人地址
401336 重庆市南岸区茶园新区玉马路8号
IPC主分类号
G06F11/22
IPC分类号
G06F11/36 G06F13/40 G06F13/42 H04N17/00 H04W24/00
代理机构
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人
高洁;胡春光
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
显示模组的测试方法、测试装置、测试设备和存储介质 [P]. 
张伟彬 ;
肖志慧 .
中国专利 :CN118072641A ,2024-05-24
[2]
测试装置、测试设备、测试方法及存储介质 [P]. 
徐熊 ;
雷震宇 ;
唐知华 ;
丁蕾 ;
贺舒杰 .
中国专利 :CN120808857A ,2025-10-17
[3]
蓝牙测试方法、测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
黄光华 .
中国专利 :CN119109528A ,2024-12-10
[4]
失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质 [P]. 
赵哲 ;
吴耆贤 .
中国专利 :CN115458025A ,2022-12-09
[5]
失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质 [P]. 
赵哲 ;
吴耆贤 .
中国专利 :CN115458025B ,2025-10-14
[6]
终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN111601331A ,2020-08-28
[7]
终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN111586732A ,2020-08-25
[8]
设备测试方法、设备测试装置、电子设备和存储介质 [P]. 
王哲夫 ;
李航 .
中国专利 :CN119003304A ,2024-11-22
[9]
一种测试方法、测试设备、测试装置及存储介质 [P]. 
曾旋 ;
谭庆照 .
中国专利 :CN120825245A ,2025-10-21
[10]
CPU功耗的测试方法、测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
赵凡 ;
张猛 .
中国专利 :CN111813632A ,2020-10-23