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半导体结构形成
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011330998.3
申请日
:
2020-11-24
公开(公告)号
:
CN113130754B
公开(公告)日
:
2025-04-11
发明(设计)人
:
S·萨卡尔
J·A·伊莫尼吉
K·H·庄
J·J·J·穆图拉伊
亚诺什·富克斯科
B·E·格林伍德
F·M·古德
申请人
:
美光科技公司
申请人地址
:
美国爱达荷州
IPC主分类号
:
H01L21/67
IPC分类号
:
H10B80/00
代理机构
:
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人
:
王龙
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-11
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体结构形成
[P].
S·萨卡尔
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S·萨卡尔
;
J·A·伊莫尼吉
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J·A·伊莫尼吉
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K·H·庄
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K·H·庄
;
J·J·J·穆图拉伊
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J·J·J·穆图拉伊
;
亚诺什·富克斯科
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亚诺什·富克斯科
;
B·E·格林伍德
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B·E·格林伍德
;
F·M·古德
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F·M·古德
.
中国专利
:CN113130754A
,2021-07-16
[2]
半导体结构形成
[P].
N·R·塔皮亚斯
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N·R·塔皮亚斯
;
S·萨帕
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S·萨帕
;
A·A·汉德卡
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A·A·汉德卡
;
胡申
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胡申
.
中国专利
:CN111799214A
,2020-10-20
[3]
半导体结构形成
[P].
胡申
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胡申
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刘鸿威
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刘鸿威
;
李晓
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李晓
;
解志强
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解志强
;
C·施塔勒
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C·施塔勒
;
J·B·赫尔
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J·B·赫尔
;
A·A·卡恩德卡尔
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A·A·卡恩德卡尔
;
T·A·菲古拉
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T·A·菲古拉
.
中国专利
:CN113013165A
,2021-06-22
[4]
半导体结构形成
[P].
F·A·席赛克-艾吉
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F·A·席赛克-艾吉
;
C·雅各布
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C·雅各布
.
中国专利
:CN112992791A
,2021-06-18
[5]
半导体结构形成
[P].
F·A·席赛克-艾吉
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机构:
美光科技公司
美光科技公司
F·A·席赛克-艾吉
;
C·雅各布
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机构:
美光科技公司
美光科技公司
C·雅各布
.
美国专利
:CN112992791B
,2024-03-12
[6]
半导体结构形成
[P].
V·亚达夫
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V·亚达夫
;
F·A·席赛克-艾吉
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F·A·席赛克-艾吉
;
S·萨帕
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S·萨帕
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T·A·菲古拉
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T·A·菲古拉
;
李康乐
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李康乐
.
中国专利
:CN112447728A
,2021-03-05
[7]
半导体结构形成
[P].
V·N·K·尼拉帕拉
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V·N·K·尼拉帕拉
;
D·C·潘迪
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D·C·潘迪
;
N·考希克
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N·考希克
.
中国专利
:CN112992903A
,2021-06-18
[8]
半导体结构形成
[P].
V·亚达夫
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V·亚达夫
;
胡申
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胡申
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李康乐
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李康乐
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S·萨帕
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S·萨帕
.
中国专利
:CN112420705A
,2021-02-26
[9]
半导体结构形成方法
[P].
刘中元
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刘中元
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赵鹏
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赵鹏
;
马孝田
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马孝田
.
中国专利
:CN111725068A
,2020-09-29
[10]
半导体结构形成方法
[P].
崔明
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崔明
.
中国专利
:CN114613675A
,2022-06-10
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