内建测试电路、隔离式栅极驱动芯片、测试平台及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411804211.0

申请日：

2024-12-10

公开(公告)号：

CN119738690A

公开(公告)日：

2025-04-01

发明(设计)人：

石欢

申请人：

芯联先锋集成电路制造（绍兴）有限公司

申请人地址：

312000 浙江省绍兴市越城区皋埠街道临江路518号-17

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/073

代理机构：

苏州锦尚知识产权代理事务所(普通合伙) 32502

代理人：

曹洁;李洋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241210
2025-04-01	公开	公开

共 50 条

[1]

SOC芯片内建测试电路、SOC芯片及测试方法 [P].

吴思欣 ;

郭敬 .

中国专利 :CN115542132A ,2022-12-30

[2]

内建测试电路的半导体芯片 [P].

饶瑞孟 ;

郭建利 .

中国专利 :CN100468721C ,2007-02-07

[3]

内建测试电路的半导体芯片 [P].

饶瑞孟 ;

郭建利 .

中国专利 :CN101320730A ,2008-12-10

[4]

内建测试电路的显示驱动器及其测试方法 [P].

张智兴 .

中国专利 :CN101452680B ,2009-06-10

[5]

内建测试电路的源极驱动器及其测试方法 [P].

陈林谦 ;

庄达昌 .

中国专利 :CN100359556C ,2006-03-22

[6]

条件式存取芯片、其内建自我测试电路及测试方法 [P].

蔡尚达 ;

翁培恩 ;

吕宗达 .

中国专利 :CN107492395B ,2017-12-19

[7]

高压栅极驱动芯片测试系统 [P].

李安平 ;

邓瑞祯 ;

王健 ;

王英广 ;

舒雄 ;

孔晓琳 ;

李建强 ;

云星 ;

欧纲 .

中国专利 :CN210442478U ,2020-05-01

[8]

一种驱动芯片测试电路及系统 [P].

乔向洋 ;

吴洋 .

中国专利 :CN216287519U ,2022-04-12

[9]

芯片测试电路及电路测试方法 [P].

黄宇 ;

崔昌明 ;

黄俊林 ;

付海涛 .

中国专利 :CN115443415A ,2022-12-06

[10]

芯片测试电路及电路测试方法 [P].

崔昌明 ;

黄俊林 ;

黄宇 ;

付海涛 .

中国专利 :CN115443413B ,2025-05-23

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