光声膜厚量测系统及量测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411998491.3

申请日：

2024-12-31

公开(公告)号：

CN119714093A

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

陈鲁孙韬马砚忠白园园

申请人：

深圳中科飞测科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301-14号101、102

IPC主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

代理机构：

深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316

代理人：

张俊锋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20241231
2025-11-21	授权	授权
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

光声膜厚量测系统及量测方法 [P].

陈鲁 ;

孙韬 ;

马砚忠 ;

白园园 .

中国专利 :CN119714093B ,2025-11-21

[2]

量测卡、量测系统及量测方法 [P].

张育维 ;

杨茆世芳 ;

马天彦 .

中国专利 :CN117804330A ,2024-04-02

[3]

金属膜膜厚量测系统及采用该系统进行膜厚量测的方法 [P].

黄仁东 .

中国专利 :CN104390580A ,2015-03-04

[4]

量测手套及量测系统 [P].

张家齐 ;

萧子健 .

中国专利 :CN105455788A ,2016-04-06

[5]

量测系统与量测方法 [P].

张钰林 ;

童凯炀 ;

林茂青 .

中国专利 :CN107966625A ,2018-04-27

[6]

量测系统、量测方法及存储介质 [P].

熊金磊 ;

范学仕 ;

臧笑妍 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117781899A ,2024-03-29

[7]

一种光声量测过程中光斑识别方法及光声量测系统 [P].

马砚忠 ;

崔舒涵 ;

白园园 ;

陈鲁 .

中国专利 :CN120766025A ,2025-10-10

[8]

表面量测方法及表面量测系统 [P].

周智川 ;

杨沛哲 ;

陈建国 .

中国专利 :CN108662992B ,2018-10-16

[9]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[10]

光斑检测方法、对焦方法及光声量测系统 [P].

杜航 ;

董诗浩 ;

李仲禹 ;

陈煜杰 .

中国专利 :CN120008485A ,2025-05-16

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