基片处理系统和基片异常检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380065158.4
申请日
2023-09-26
公开(公告)号
CN119866540A
公开(公告)日
2025-04-22
发明(设计)人
永井龙 石川慎也 佐藤健太 田中康基
申请人
东京毅力科创株式会社
申请人地址
日本
IPC主分类号
H01L21/66
IPC分类号
G01N21/956
代理机构
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
龙淳;何中文
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
基片处理方法和基片处理系统 [P]. 
熊仓翔 ;
小野健太 ;
中根由太 ;
西冢哲也 ;
本田昌伸 .
日本专利 :CN119923708A ,2025-05-02
[2]
基片处理方法和基片处理系统 [P]. 
久松亨 ;
胜沼隆幸 ;
石川慎也 ;
木原嘉英 ;
本田昌伸 .
日本专利 :CN113169066B ,2024-05-31
[3]
基片处理方法和基片处理系统 [P]. 
榎本正志 ;
中村泰之 ;
鹤田丰久 .
中国专利 :CN113075867A ,2021-07-06
[4]
基片处理方法和基片处理系统 [P]. 
冈田聪一郎 .
日本专利 :CN117501416A ,2024-02-02
[5]
基片处理系统和基片处理方法 [P]. 
赫尔曼·施勒姆 ;
马蒂亚斯·尤尔格 .
中国专利 :CN102007565A ,2011-04-06
[6]
基片处理方法和基片处理系统 [P]. 
熊仓翔 ;
小野健太 ;
中根由太 ;
西冢哲也 ;
本田昌伸 .
日本专利 :CN119816921A ,2025-04-11
[7]
基片处理系统和基片处理方法 [P]. 
齐藤幸良 ;
中原田雅弘 .
日本专利 :CN120184070A ,2025-06-20
[8]
基片处理方法和基片处理系统 [P]. 
熊仓翔 ;
小野健太 ;
中根由太 ;
西冢哲也 ;
本田昌伸 .
日本专利 :CN119816920A ,2025-04-11
[9]
基片处理方法和基片处理系统 [P]. 
斋藤祐介 ;
村松诚 ;
藤井宽之 .
日本专利 :CN115066742B ,2025-09-30
[10]
基片处理方法和基片处理系统 [P]. 
斋藤祐介 ;
村松诚 ;
藤井宽之 .
中国专利 :CN115066742A ,2022-09-16