一种提高芯片测试温度控制精度的方法和系统

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专利类型
发明
申请号
CN202411788385.2
申请日
2024-12-06
公开(公告)号
CN119758024A
公开(公告)日
2025-04-04
发明(设计)人
曹建林 何刚 罗艳
申请人
深圳市诚芯微科技股份有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区南湾街道下李朗社区布澜路31号李朗国际珠宝产业园厂房一A3栋601
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G05D23/30 G01D21/02
代理机构
北京维正专利代理有限公司 11508
代理人
徐俊
法律状态
公开
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种提高芯片测试温度控制精度的方法和装置 [P]. 
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[4]
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[10]
芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P]. 
田健飞 ;
王远 ;
唐平 .
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