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超音波距離センサー及び該超音波距離センサーを利用した物体位置測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20240081033
申请日
:
2024-05-17
公开(公告)号
:
JP2025064891A
公开(公告)日
:
2025-04-17
发明(设计)人
:
PARK SANG YUN
KHANG SEUNG TAE
KO BYUNG HOON
NOH SEUNG WOO
CHOI JIN WOO
申请人
:
SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01S15/34
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
超音波距離測定装置及び超音波距離測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7040766B2
,2022-03-23
[2]
超音波距離測定装置、超音波距離測定方法及びコントローラ[ja]
[P].
日本专利
:JP7163425B2
,2022-10-31
[3]
超音波距離測定装置および超音波距離測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5784179B1
,2015-09-24
[4]
超音波測定器及び超音波測定器を用いた超音波測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018168363A1
,2020-01-23
[5]
超音波測定器及び超音波測定器を用いた超音波測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6820453B2
,2021-01-27
[6]
距離測定方法、距離測定システム及び距離センサー[ja]
[P].
日本专利
:JP5679549B2
,2015-03-04
[7]
超音波装置、及び超音波測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7081143B2
,2022-06-07
[8]
超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6186737B2
,2017-08-30
[9]
超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6197505B2
,2017-09-20
[10]
超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6237007B2
,2017-11-29
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