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芯片缺陷检测方法及装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311436360.1
申请日：
2023-10-31
公开(公告)号：
CN119919338A
公开(公告)日：
2025-05-02
发明(设计)人：
王敬贤
刘涛
舒婷
潘成安
周许超
张记晨
张凯
申请人：
上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请人地址：
201203 上海市浦东新区张东路1525号
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/90
G06V10/762
G06V10/764
G06V10/774
G06N3/0464
G06N20/00
代理机构：
上海思捷知识产权代理有限公司 31295
代理人：
朱笑宇
法律状态：
专利申请权、专利权的转移
国省代码：
上海市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-07-25 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利申请权的转移IPC(主分类):G06T 7/00登记生效日:20250711变更事项:申请人变更前权利人:上海微电子装备（集团）股份有限公司变更后权利人:上海芯上微装科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:201203 上海市浦东新区张东路1525号变更后权利人:201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层 |
| 2025-05-20 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231031 |
| 2025-05-02 | 公开 | 公开 |