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一种器件测试电路和方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510155248.3
申请日：
2025-02-12
公开(公告)号：
CN119916168A
公开(公告)日：
2025-05-02
发明(设计)人：
胡银超 王承
申请人：
武汉普赛斯仪表有限公司
申请人地址：
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号-6号保税物流园6号楼4楼402室（自贸区武汉片区）
IPC主分类号：
G01R31/26
IPC分类号：
G01R35/00 G01R1/20
代理机构：
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231
代理人：
周双
法律状态：
公开
国省代码：
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-02 公开 公开
2025-05-20 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20250212
共 50 条
[1]
器件测试电路和器件测试方法 [P]. 
朱吉新 ;
江舸 ;
何志志 ;
何杏 .
中国专利 :CN120385903A ,2025-07-29
[2]
一种半导体器件的UIS测试电路和UIS测试方法 [P]. 
赵旭 ;
毛赛君 ;
刘弘耀 .
中国专利 :CN117250469B ,2024-02-09
[3]
一种功率器件的失效测试电路和失效测试方法 [P]. 
刘国友 ;
黄建伟 ;
罗海辉 ;
覃荣震 ;
余伟 ;
朱利恒 .
中国专利 :CN104764988A ,2015-07-08
[4]
一种EEPROM器件测试电路及其测试方法 [P]. 
刘新东 ;
向中文 .
中国专利 :CN102081972A ,2011-06-01
[5]
一种功率器件的测试电路和测试方法 [P]. 
陈跃俊 ;
刘惠鹏 .
中国专利 :CN121142262A ,2025-12-16
[6]
功率器件的测试方法和测试电路 [P]. 
张海涛 ;
陈宏亮 ;
刘惠鹏 ;
闫肃 ;
樊晨 .
中国专利 :CN119575115A ,2025-03-07
[7]
功率器件的测试电路和测试方法 [P]. 
张海涛 ;
陈宏亮 ;
刘惠鹏 ;
闫肃 ;
樊晨 .
中国专利 :CN119575114A ,2025-03-07
[8]
一种光器件测试电路、测试方法 [P]. 
刘伟 ;
许远忠 ;
张强 ;
李惠敏 .
中国专利 :CN119716649B ,2025-05-27
[9]
一种光器件测试电路、测试方法 [P]. 
刘伟 ;
许远忠 ;
张强 ;
李惠敏 .
中国专利 :CN119716649A ,2025-03-28
[10]
一种半导体器件测试电路 [P]. 
罗契英 ;
胡孟金 ;
张丽回 ;
莫清深 .
中国专利 :CN222070760U ,2024-11-26
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