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测试系统及测试方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510040021.4
申请日：
2025-01-10
公开(公告)号：
CN119882686A
公开(公告)日：
2025-04-25
发明(设计)人：
王春荧 林桐
申请人：
重庆长安科技有限责任公司
申请人地址：
401135 重庆市渝北区两江新区龙兴镇现代大道120号1幢
IPC主分类号：
G05B23/02
IPC分类号：
代理机构：
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人：
席少晖;徐川
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-25 公开 公开
2025-05-13 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G05B 23/02申请日:20250110
共 50 条
[1]
NVM芯片测试系统及测试方法 [P]. 
陈凯华 ;
谢晋春 ;
陈婷 ;
桑浚之 ;
辛吉升 .
中国专利 :CN101202117A ,2008-06-18
[2]
测试电路、测试系统及测试方法 [P]. 
吴永隆 ;
孙瑞 ;
何文基 ;
朱铭 .
中国专利 :CN117631339A ,2024-03-01
[3]
芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P]. 
田健飞 ;
王远 ;
唐平 .
中国专利 :CN114518524A ,2022-05-20
[4]
芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P]. 
田健飞 ;
王远 ;
唐平 .
中国专利 :CN114518524B ,2025-07-08
[5]
芯片测试的数据读取方法、测试机、测试系统及介质 [P]. 
牛功喜 ;
张强 ;
李震 ;
董超 ;
刘圣林 .
中国专利 :CN118012688A ,2024-05-10
[6]
一种硬盘背板的测试板卡、测试系统及测试方法 [P]. 
刘传彬 ;
陈金龙 .
中国专利 :CN120295848A ,2025-07-11
[7]
一种CAN网络测试系统及测试方法 [P]. 
李占江 ;
高超 ;
蒋元广 ;
李麟 ;
杨清宇 .
中国专利 :CN108900377A ,2018-11-27
[8]
HIL仿真测试系统及测试方法 [P]. 
吴杰 ;
洪泽 .
中国专利 :CN118012012A ,2024-05-10
[9]
一种测试板卡、测试系统和测试方法 [P]. 
钱进 ;
马茂松 ;
石宏龙 .
中国专利 :CN115831211B ,2025-12-23
[10]
测试电路、测试板及测试系统 [P]. 
官勐杰 ;
刘敏 ;
齐鲁欣 .
中国专利 :CN114994510A ,2022-09-02
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