用于测量物体的高度轮廓的装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080053465.7

申请日：

2020-07-17

公开(公告)号：

CN114144635B

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

贝恩德·斯罗卡

申请人：

森特电子计量有限公司

申请人地址：

德国曼海姆

IPC主分类号：

G01B9/02

IPC分类号：

G01B9/02015 G01N21/47 G01N21/956 G01B11/24

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇;张会华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	授权	授权

共 50 条

[1]

用于测量物体的高度轮廓的装置和方法 [P].

贝恩德·斯罗卡 .

中国专利 :CN114144635A ,2022-03-04

[2]

用于对具有未知材料的平的物体进行轮廓测量的装置和方法 [P].

贝恩德·斯罗卡 .

中国专利 :CN114616437A ,2022-06-10

[3]

用于用干涉测量法测量物体的装置和方法 [P].

马西亚斯·许斯勒 ;

克里斯蒂安·伦贝 ;

亚历山大·德雷本施泰特 ;

罗伯特·科瓦尔施 ;

万贾·奥赫斯 .

中国专利 :CN103090786A ,2013-05-08

[4]

用于测量物体的色共焦光学测量和共焦成像的装置和方法 [P].

C·迪茨 ;

M·施恩勒伯 ;

J-F·皮肖特 ;

S·安得烈 .

中国专利 :CN112368539A ,2021-02-12

[5]

用于测量物体的高度或高度分布的方法和光图案 [P].

B·霍夫曼 ;

I·逖希霍尔茨 .

中国专利 :CN103791842B ,2014-05-14

[6]

用于测量物体的测量设备 [P].

M·弗格尔 ;

R·里奇特 ;

T·梅茨 ;

A·格利姆 ;

T·克卢达斯 ;

U·纳图拉 .

中国专利 :CN111060066B ,2020-04-24

[7]

用于测量物体的变形特征的方法和装置 [P].

C·J·罗伯茨 .

中国专利 :CN101299957A ,2008-11-05

[8]

用于物体的几何测量的装置和方法 [P].

T·梅 ;

C·艾姆韦格 ;

G·伯格 ;

R·尼克劳斯 ;

J·皮特 .

中国专利 :CN106461376B ,2017-02-22

[9]

用于物体的几何测量的装置和方法 [P].

C·艾姆韦格 ;

T·梅 .

中国专利 :CN112567198A ,2021-03-26

[10]

用于物体几何测量的装置和方法 [P].

T·梅 ;

C·艾姆韦格 .

中国专利 :CN106461385B ,2017-02-22

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