一种IC芯片自动测试机及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510361719.6

申请日：

2025-03-26

公开(公告)号：

CN119881608A

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

唐邦文于荣成邹聪

申请人：

湖南旺鑫智能装备有限公司

申请人地址：

410000 湖南省长沙市望城经济技术开发区联东U谷-长沙望城国际企业港二期一区B14#栋

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

广州市华创源专利事务所有限公司 44210

代理人：

李方帆

法律状态：

公开

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	公开	公开
2025-07-01	授权	授权
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250326

共 50 条

[1]

一种IC芯片自动测试机及其测试方法 [P].

唐邦文 ;

于荣成 ;

邹聪 .

中国专利 :CN119881608B ,2025-07-01

[2]

内存芯片自动测试机 [P].

林勇 .

中国专利 :CN221754021U ,2024-09-24

[3]

芯片自动测试机 [P].

陈飞宇 ;

梁发年 .

中国专利 :CN112798936A ,2021-05-14

[4]

芯片自动测试机 [P].

陈飞宇 ;

梁发年 .

中国专利 :CN214669444U ,2021-11-09

[5]

芯片自动测试机 [P].

陈飞宇 ;

梁发年 .

中国专利 :CN112798936B ,2025-01-14

[6]

一种芯片自动测试机 [P].

吕本科 ;

薛静 ;

张照 ;

胡新猛 ;

胡庆丰 ;

徐静 .

中国专利 :CN111112149A ,2020-05-08

[7]

DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机 [P].

龙满珍 ;

何昭圣 .

中国专利 :CN115249511B ,2024-06-04

[8]

一种自动测试机 [P].

徐红波 .

中国专利 :CN209764599U ,2019-12-10

[9]

一种自动测试机 [P].

马立新 .

中国专利 :CN210638873U ,2020-05-29

[10]

一种自动测试机 [P].

程浪 ;

张曙光 ;

刘超伟 ;

王虹淇 ;

赵坤伟 .

中国专利 :CN216026300U ,2022-03-15

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