一种芯片寄存器的验证方法、装置、设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411663644.9

申请日：

2024-11-20

公开(公告)号：

CN119883780A

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

郑健张善从李介民周礼照陈家启

申请人：

厦门国科安芯科技有限公司

申请人地址：

361022 福建省厦门市集美区杏林湾路502号3801单元之一

IPC主分类号：

G06F11/263

IPC分类号：

G06F11/22

代理机构：

北京开阳星知识产权代理有限公司 11710

代理人：

陈洁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	公开	公开
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/263申请日:20241120

共 50 条

[1]

一种芯片寄存器的验证方法、装置、设备及介质 [P].

任刚 ;

逯锦文 .

中国专利 :CN119088631A ,2024-12-06

[2]

芯片寄存器的系统级验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

杨静 ;

邵海波 ;

乐亚平 .

中国专利 :CN114330177B ,2025-06-06

[3]

芯片寄存器的系统级验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

杨静 ;

邵海波 ;

乐亚平 .

中国专利 :CN114330177A ,2022-04-12

[4]

一种芯片寄存器的验证方法、系统及相关装置 [P].

王莹 .

中国专利 :CN112131829A ,2020-12-25

[5]

寄存器的验证方法、装置、设备和介质 [P].

付胜伟 .

中国专利 :CN115080120A ,2022-09-20

[6]

基于UVM的芯片寄存器的验证方法 [P].

张宁 ;

栾昌海 .

中国专利 :CN115345101A ,2022-11-15

[7]

寄存器的验证方法、装置、设备和介质 [P].

付胜伟 .

中国专利 :CN115080120B ,2024-07-19

[8]

一种寄存器验证方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN114139476B ,2025-05-02

[9]

一种寄存器验证方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN114139476A ,2022-03-04

[10]

寄存器扰动装置、芯片验证方法和系统、设备及存储介质 [P].

李竹一 .

中国专利 :CN118133771B ,2025-01-17

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