缺陷类别检测方法及系统、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411915274.3

申请日：

2024-12-24

公开(公告)号：

CN119887656A

公开(公告)日：

2025-04-25

发明(设计)人：

吴平标彭明尹西林于波张华

申请人：

深圳市格灵精睿视觉有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南环路46号留学生创业大厦二期2层南区

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/14 G06V10/774 G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/08

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

黄英杰

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	公开	公开
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241224

共 50 条

[1]

焊缝缺陷类别检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘海生 ;

彭明君 ;

王中任 ;

胡曦 ;

赵荣丽 ;

张俊 ;

刘亚丽 ;

吴艳花 .

中国专利 :CN111292303A ,2020-06-16

[2]

缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

蒋小可 ;

吴立威 .

中国专利 :CN115082413A ,2022-09-20

[3]

电子器件缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈健 .

中国专利 :CN119850515A ,2025-04-18

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334A ,2024-02-09

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334B ,2024-05-24

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈维玲 ;

戴波 ;

夏健钧 ;

严静 ;

秦祥熙 ;

陈嘉豪 .

中国专利 :CN120385688A ,2025-07-29

[7]

对象类别的检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

杨蒙昭 ;

柴振华 ;

李圣喜 .

中国专利 :CN111027390A ,2020-04-17

[8]

缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

潘屹峰 ;

李勇 ;

杨骥 ;

王力志 ;

黄吴蒙 ;

刘章聪 ;

何昱 ;

杨锐 ;

张道林 ;

张健芳 .

中国专利 :CN121033055A ,2025-11-28

[9]

缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

胡流彬 ;

肖寒琼 ;

范振亮 ;

张修龙 ;

刘衍忠 .

中国专利 :CN117495773A ,2024-02-02

[10]

胶合误差检测方法、电子设备及存储介质 [P].

王鑫 .

中国专利 :CN120028019A ,2025-05-23

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