性能测试方法、装置及相关设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411984377.5
申请日
2024-12-30
公开(公告)号
CN119902981A
公开(公告)日
2025-04-29
发明(设计)人
黄则强
申请人
海光信息技术股份有限公司
申请人地址
300384 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
IPC主分类号
G06F11/3668
IPC分类号
代理机构
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人
汤陈龙
法律状态
实质审查的生效
国省代码
天津市
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共 50 条
[1]
性能测试方法、装置及相关设备 [P]. 
张彦彬 ;
王鹏 .
中国专利 :CN119597646A ,2025-03-11
[2]
性能测试方法及相关设备 [P]. 
纪广财 ;
张志磊 ;
田新超 ;
吴满 ;
王星星 ;
刘建烁 ;
郭建强 .
中国专利 :CN119336620A ,2025-01-21
[3]
性能测试方法及相关设备 [P]. 
杨亚 .
中国专利 :CN110618922B ,2019-12-27
[4]
一种设备性能测试方法、装置及相关设备 [P]. 
李鹏鹏 ;
范渊 .
中国专利 :CN113542066B ,2021-10-22
[5]
加密设备性能测试方法及相关装置 [P]. 
贾玲 ;
王智慧 ;
高睿 ;
巩向滨 ;
王昊 .
中国专利 :CN118714055A ,2024-09-27
[6]
数据库性能测试方法及相关装置 [P]. 
练炳诚 ;
蔡宝清 ;
李春花 ;
周可 ;
原嘉 ;
邢家树 ;
蔡晓帆 ;
杨杰 .
中国专利 :CN119440972A ,2025-02-14
[7]
一种设备存储性能测试方法、系统及相关装置 [P]. 
陈雪 .
中国专利 :CN112269697B ,2021-01-26
[8]
系统性能测试方法及相关设备 [P]. 
李世华 ;
罗伟涌 ;
姜文文 ;
王露 .
中国专利 :CN121070785A ,2025-12-05
[9]
设备的性能测试方法及装置 [P]. 
周明 .
中国专利 :CN112910739A ,2021-06-04
[10]
一种内存性能测试方法及相关装置 [P]. 
李威 .
中国专利 :CN115129570A ,2022-09-30