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一种内存性能测试方法及相关装置
被引：0
申请号：
CN202210763791.8
申请日：
2022-06-30
公开(公告)号：
CN115129570A
公开(公告)日：
2022-09-30
发明(设计)人：
李威
申请人：
申请人地址：
215100 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号：
G06F1134
IPC分类号：
G06F1130
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
耿苑
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-09-30 | 公开 | 公开 |