一种内存性能测试方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610607521.2

申请日：

2016-07-28

公开(公告)号：

CN106294053A

公开(公告)日：

2017-01-04

发明(设计)人：

徐伟超

申请人：

申请人地址：

250100 山东省济南市高新区浪潮路1036号

IPC主分类号：

G06F1126

IPC分类号：

代理机构：

济南信达专利事务所有限公司 37100

代理人：

李世喆

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-02-22	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F 11/26 申请公布日:20170104
2017-02-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101700833278 IPC(主分类):G06F 11/26 专利申请号:2016106075212 申请日:20160728
2017-01-04	公开	公开

共 50 条

[1]

一种内存性能测试方法、装置及芯片 [P].

文超 .

中国专利 :CN112256502A ,2021-01-22

[2]

一种内存性能测试方法及相关装置 [P].

李威 .

中国专利 :CN115129570A ,2022-09-30

[3]

一种内存性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

孙崇雨 ;

高磊 ;

陈翔 .

中国专利 :CN117806932A ,2024-04-02

[4]

一种内存性能的生产测试方法 [P].

汪浩然 ;

黄毅 ;

陈浩 .

中国专利 :CN101110271A ,2008-01-23

[5]

一种内存性能测试方法、装置、设备和介质 [P].

费博 ;

杜驱虎 ;

赵朝炀 ;

蔡文超 ;

田学余 .

中国专利 :CN118733362A ,2024-10-01

[6]

一种内存性能测试优化方法、装置及设备 [P].

孙宁涛 .

中国专利 :CN119557153A ,2025-03-04

[7]

内存性能测试方法、系统、终端及存储介质 [P].

谭静静 ;

邢科钰 ;

黄三保 .

中国专利 :CN114721890A ,2022-07-08

[8]

一种国产操作系统内存性能测试方法及系统 [P].

彭涛 ;

毕海嘉 ;

王若霖 ;

包铁 .

中国专利 :CN112363884A ,2021-02-12

[9]

一种优化内存性能测试的方法、装置 [P].

薄金刚 .

中国专利 :CN111367737A ,2020-07-03

[10]

内存性能测试方法、装置及计算机设备 [P].

刘蔓莉 ;

鹿存义 ;

郭锐 ;

王马俊 ;

柴兆文 .

中国专利 :CN116244129B ,2024-08-23

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