一种内存性能测试方法、装置及芯片

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011022016.4

申请日：

2020-09-25

公开(公告)号：

CN112256502A

公开(公告)日：

2021-01-22

发明(设计)人：

文超

申请人：

申请人地址：

610000 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天华二路219号4栋1单元1层1号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F1126

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-22	公开	公开
2021-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20200925

共 50 条

[1]

一种内存性能测试方法及装置 [P].

徐伟超 .

中国专利 :CN106294053A ,2017-01-04

[2]

一种内存性能测试方法及相关装置 [P].

李威 .

中国专利 :CN115129570A ,2022-09-30

[3]

一种内存性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

孙崇雨 ;

高磊 ;

陈翔 .

中国专利 :CN117806932A ,2024-04-02

[4]

一种芯片性能测试方法及装置 [P].

雷诺 ;

魏比莉 ;

田野 ;

何世伟 .

中国专利 :CN117687860A ,2024-03-12

[5]

一种内存性能的生产测试方法 [P].

汪浩然 ;

黄毅 ;

陈浩 .

中国专利 :CN101110271A ,2008-01-23

[6]

一种内存性能测试方法、装置、设备和介质 [P].

费博 ;

杜驱虎 ;

赵朝炀 ;

蔡文超 ;

田学余 .

中国专利 :CN118733362A ,2024-10-01

[7]

一种内存性能测试优化方法、装置及设备 [P].

孙宁涛 .

中国专利 :CN119557153A ,2025-03-04

[8]

一种射频芯片性能测试方法及装置 [P].

杨德成 ;

李茂 ;

周茂 ;

黄学知 ;

刘宝键 ;

王琳 .

中国专利 :CN118150980A ,2024-06-07

[9]

一种芯片性能测试方法、装置及系统 [P].

张满 ;

李亮 .

中国专利 :CN107153158A ,2017-09-12

[10]

一种内存芯片的电连接性能测试方法、系统及存储介质 [P].

赖俊生 ;

刘继军 ;

曾理 ;

蔡书文 .

中国专利 :CN120766747A ,2025-10-10

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