一种内存芯片的电连接性能测试方法、系统及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510903927.4

申请日：

2025-07-01

公开(公告)号：

CN120766747A

公开(公告)日：

2025-10-10

发明(设计)人：

赖俊生刘继军曾理蔡书文

申请人：

皇虎测试科技（深圳）有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区科技北二路25号航天微电机厂房科研楼B座二层

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/52 G01R31/54

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

江进

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	公开	公开
2025-10-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20250701

共 50 条

[1]

内存性能测试方法、系统、终端及存储介质 [P].

谭静静 ;

邢科钰 ;

黄三保 .

中国专利 :CN114721890A ,2022-07-08

[2]

一种电子芯片电性能测试系统、方法及存储介质 [P].

居法银 ;

李宁 ;

范波军 ;

杨家辉 ;

范博渊 ;

肖欢欢 .

中国专利 :CN119024143A ,2024-11-26

[3]

内存的性能测试方法、装置、设备和存储介质 [P].

范孚嘉 ;

陈颖 ;

秦晓宁 .

中国专利 :CN118227394A ,2024-06-21

[4]

一种内存性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

孙崇雨 ;

高磊 ;

陈翔 .

中国专利 :CN117806932A ,2024-04-02

[5]

持久性内存性能测试方法、系统、终端及存储介质 [P].

张瑛卓 .

中国专利 :CN115114130A ,2022-09-27

[6]

一种内存性能测试方法、系统及计算机可读存储介质 [P].

路勤良 .

中国专利 :CN113076237B ,2021-07-06

[7]

性能测试方法、装置、系统、测试设备及存储介质 [P].

闫霄 ;

杨震 ;

张红学 .

中国专利 :CN113783754A ,2021-12-10

[8]

一种性能测试方法、设备、系统及存储介质 [P].

朱刘江 ;

王均 ;

孙小霞 .

中国专利 :CN114490304A ,2022-05-13

[9]

一种内存性能测试方法、装置及芯片 [P].

文超 .

中国专利 :CN112256502A ,2021-01-22

[10]

一种内存泄露测试方法、系统、终端及存储介质 [P].

黄姿燕 .

中国专利 :CN118964221B ,2025-01-03

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