一种芯片性能测试方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311408749.5

申请日：

2023-10-26

公开(公告)号：

CN117687860A

公开(公告)日：

2024-03-12

发明(设计)人：

雷诺魏比莉田野何世伟

申请人：

成都安易迅科技有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市自由贸易试验区成都高新区天府大道中段1268号1栋11层21号

IPC主分类号：

G06F11/26

IPC分类号：

G06F11/22

代理机构：

北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448

代理人：

王欢

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/26申请日:20231026
2024-03-12	公开	公开

共 50 条

[1]

一种射频芯片性能测试方法及装置 [P].

杨德成 ;

李茂 ;

周茂 ;

黄学知 ;

刘宝键 ;

王琳 .

中国专利 :CN118150980A ,2024-06-07

[2]

一种内存性能测试方法、装置及芯片 [P].

文超 .

中国专利 :CN112256502A ,2021-01-22

[3]

一种芯片性能测试方法、装置及系统 [P].

张满 ;

李亮 .

中国专利 :CN107153158A ,2017-09-12

[4]

一种芯片性能测试方法 [P].

马国庆 ;

孟涛 ;

叶洪英 .

中国专利 :CN113267715A ,2021-08-17

[5]

一种射频系统芯片性能测试方法及装置 [P].

邓任钦 ;

梁晨 ;

胡汝佳 .

中国专利 :CN104618037A ,2015-05-13

[6]

芯片性能测试方法及系统 [P].

岑律钢 ;

赵书鹏 ;

毛亦凡 ;

丁昊杰 ;

翁恒鑫 ;

周吉星 .

中国专利 :CN117389853A ,2024-01-12

[7]

一种SPI NAND Flash芯片性能测试方法及装置 [P].

徐培根 .

中国专利 :CN118366531A ,2024-07-19

[8]

一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P].

彭超 ;

黄胜蓝 ;

谈健 ;

顾胜 .

中国专利 :CN120651500A ,2025-09-16

[9]

一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P].

程先金 ;

徐金军 ;

李园刚 ;

张聪 ;

杨重影 .

中国专利 :CN118624181A ,2024-09-10

[10]

接口性能测试方法及装置 [P].

张健 ;

吴海英 ;

王思远 ;

蒋宁 ;

朱国壮 .

中国专利 :CN114816956A ,2022-07-29

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