一种芯片性能测试方法、装置及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610126052.2

申请日：

2016-03-04

公开(公告)号：

CN107153158A

公开(公告)日：

2017-09-12

发明(设计)人：

张满李亮

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312

代理人：

陈健

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-03	授权	授权
2017-10-10	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101751632641 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2016101260522 申请日:20160304
2017-09-12	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片性能测试方法 [P].

马国庆 ;

孟涛 ;

叶洪英 .

中国专利 :CN113267715A ,2021-08-17

[2]

一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

卢苗 .

中国专利 :CN119805160B ,2025-09-19

[3]

一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

卢苗 .

中国专利 :CN119805160A ,2025-04-11

[4]

芯片性能测试方法及系统 [P].

岑律钢 ;

赵书鹏 ;

毛亦凡 ;

丁昊杰 ;

翁恒鑫 ;

周吉星 .

中国专利 :CN117389853A ,2024-01-12

[5]

一种射频系统芯片性能测试方法及装置 [P].

邓任钦 ;

梁晨 ;

胡汝佳 .

中国专利 :CN104618037A ,2015-05-13

[6]

一种芯片性能测试方法及装置 [P].

雷诺 ;

魏比莉 ;

田野 ;

何世伟 .

中国专利 :CN117687860A ,2024-03-12

[7]

一种芯片性能测试系统与测试方法 [P].

成璇璇 ;

童超 ;

蔡敬 ;

张博 ;

胡毅 .

中国专利 :CN113447792A ,2021-09-28

[8]

一种半导体芯片的电性能测试方法及系统 [P].

张伟 ;

张翔瑀 .

中国专利 :CN120629889A ,2025-09-12

[9]

一种射频芯片性能测试方法及装置 [P].

杨德成 ;

李茂 ;

周茂 ;

黄学知 ;

刘宝键 ;

王琳 .

中国专利 :CN118150980A ,2024-06-07

[10]

一种内存性能测试方法、装置及芯片 [P].

文超 .

中国专利 :CN112256502A ,2021-01-22

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