一种优化内存性能测试的方法、装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010132748.2

申请日：

2020-02-29

公开(公告)号：

CN111367737A

公开(公告)日：

2020-07-03

发明(设计)人：

薄金刚

申请人：

申请人地址：

215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

济南舜源专利事务所有限公司 37205

代理人：

刘雪萍

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-03	公开	公开
2022-08-26	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G06F 11/22 申请公布日:20200703
2020-07-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20200229

共 50 条

[1]

一种内存性能测试优化方法、装置及设备 [P].

孙宁涛 .

中国专利 :CN119557153A ,2025-03-04

[2]

一种优化Intel MIC卡内存性能测试的方法 [P].

姜晓辉 ;

王守昊 .

中国专利 :CN103605589A ,2014-02-26

[3]

一种提升内存测试环节的优化方法 [P].

赵晓强 .

中国专利 :CN107423173A ,2017-12-01

[4]

一种自动测试内存性能的方法 [P].

王亚林 .

中国专利 :CN107562585A ,2018-01-09

[5]

一种自动化进行内存性能测试的方法 [P].

庞潇 .

中国专利 :CN106371956A ,2017-02-01

[6]

一种内存性能测试方法、装置、设备和介质 [P].

费博 ;

杜驱虎 ;

赵朝炀 ;

蔡文超 ;

田学余 .

中国专利 :CN118733362A ,2024-10-01

[7]

一种内存性能测试方法及装置 [P].

徐伟超 .

中国专利 :CN106294053A ,2017-01-04

[8]

一种内存性能的生产测试方法 [P].

汪浩然 ;

黄毅 ;

陈浩 .

中国专利 :CN101110271A ,2008-01-23

[9]

一种内存性能测试方法、装置及芯片 [P].

文超 .

中国专利 :CN112256502A ,2021-01-22

[10]

一种内存性能测试方法及相关装置 [P].

李威 .

中国专利 :CN115129570A ,2022-09-30

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