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用于长方体检测的深度学习系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202210712339.9
申请日
:
2017-11-14
公开(公告)号
:
CN115097937B
公开(公告)日
:
2025-04-29
发明(设计)人
:
T·马利西维茨
A·拉比诺维奇
V·巴德里娜拉亚楠
D·德维贝蒂
申请人
:
奇跃公司
申请人地址
:
美国佛罗里达州
IPC主分类号
:
G06F3/01
IPC分类号
:
G06F3/04815
G06N3/0464
G06N3/084
G06T7/60
G06T7/90
G06T17/00
G06V10/46
代理机构
:
北京市中咨律师事务所 11247
代理人
:
魏子翔;于静
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-29
授权
授权
共 50 条
[1]
用于长方体检测的深度学习系统
[P].
T·马利西维茨
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T·马利西维茨
;
A·拉比诺维奇
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A·拉比诺维奇
;
V·巴德里娜拉亚楠
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V·巴德里娜拉亚楠
;
D·德维贝蒂
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D·德维贝蒂
.
中国专利
:CN110168477B
,2019-08-23
[2]
用于长方体检测的深度学习系统
[P].
T·马利西维茨
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T·马利西维茨
;
A·拉比诺维奇
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A·拉比诺维奇
;
V·巴德里娜拉亚楠
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V·巴德里娜拉亚楠
;
D·德维贝蒂
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D·德维贝蒂
.
中国专利
:CN115097937A
,2022-09-23
[3]
自动光学检测方法、设备、及其深度学习系统
[P].
方志恒
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机构:
由田新技股份有限公司
由田新技股份有限公司
方志恒
;
陆家樑
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机构:
由田新技股份有限公司
由田新技股份有限公司
陆家樑
;
徐敏堂
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机构:
由田新技股份有限公司
由田新技股份有限公司
徐敏堂
;
安比卡帕亚鲁木鲁甘
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机构:
由田新技股份有限公司
由田新技股份有限公司
安比卡帕亚鲁木鲁甘
;
林建仲
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机构:
由田新技股份有限公司
由田新技股份有限公司
林建仲
.
中国专利
:CN118150575A
,2024-06-07
[4]
自动光学检测方法、设备、及其深度学习系统
[P].
方志恒
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方志恒
;
陆家樑
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陆家樑
;
徐敏堂
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徐敏堂
;
安比卡帕亚鲁木鲁甘
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安比卡帕亚鲁木鲁甘
;
林建仲
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林建仲
.
中国专利
:CN109959661A
,2019-07-02
[5]
深度学习系统和用于深度学习系统的处理数据的方法
[P].
梁承秀
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梁承秀
.
中国专利
:CN110738324A
,2020-01-31
[6]
深度学习系统和用于深度学习系统的处理数据的方法
[P].
梁承秀
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
梁承秀
.
韩国专利
:CN110738324B
,2024-06-07
[7]
基于深度学习的缺陷检测方法和系统
[P].
王远
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王远
;
焦健浩
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焦健浩
;
云鹏
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云鹏
;
穆罕默德·奥斯曼·布塔
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穆罕默德·奥斯曼·布塔
;
孙学斌
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孙学斌
;
刘明
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刘明
.
中国专利
:CN113538323A
,2021-10-22
[8]
一种基于深度学习层级间特征融合的多尺度小物体检测方法
[P].
张永强
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张永强
;
丁明理
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丁明理
;
李贤
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李贤
;
杨光磊
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杨光磊
;
董娜
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董娜
.
中国专利
:CN107341517A
,2017-11-10
[9]
基于深度学习的试卷卷头学生信息自动检测方法
[P].
陈向乐
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陈向乐
;
黄双萍
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黄双萍
.
中国专利
:CN113076900B
,2021-07-06
[10]
用于使用深度学习提高癌症检测的方法与系统
[P].
A.基拉里
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A.基拉里
;
S.谢蒂
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S.谢蒂
;
S.巴拉德瓦杰
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S.巴拉德瓦杰
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D.阿迪拉
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D.阿迪拉
;
B.崔
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B.崔
.
中国专利
:CN112292691A
,2021-01-29
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