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偏差检测方法、校正方法、光学检测设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311540091.3
申请日：
2023-11-16
公开(公告)号：
CN120043469A
公开(公告)日：
2025-05-27
发明(设计)人：
陈鲁 欧阳鑫川 吕肃
申请人：
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301-14号101、102
IPC主分类号：
G01B11/26
IPC分类号：
G01B11/00
代理机构：
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281
代理人：
郭燕;彭家恩
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-27 公开 公开
2025-06-13 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/26申请日:20231116
共 50 条
[1]
一种条纹图校正方法、光学检测设备及存储介质 [P]. 
谢文翰 ;
冀运景 ;
刘鹏飞 .
中国专利 :CN117132589B ,2024-04-16
[2]
一种信号校正方法、光学检测设备和存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
欧阳鑫川 ;
吕肃 .
中国专利 :CN120043738B ,2025-12-09
[3]
一种信号校正方法、光学检测设备和存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
欧阳鑫川 ;
吕肃 .
中国专利 :CN120043738A ,2025-05-27
[4]
光学检测设备、光学检测设备的控制方法及存储介质 [P]. 
王冰冰 .
中国专利 :CN111521617A ,2020-08-11
[5]
温度检测偏差校正方法、装置、系统及存储介质 [P]. 
古伟杰 ;
刘旭阳 ;
雷朋飞 ;
张利 ;
冯建源 ;
蓝焕流 ;
黄晓华 ;
谭赞祥 ;
李裕宏 .
中国专利 :CN118499921A ,2024-08-16
[6]
光源自动补正方法、装置、存储介质及光学检测设备 [P]. 
褚忠涛 .
中国专利 :CN110085193A ,2019-08-02
[7]
图像检测、自动光学检测方法、装置、存储介质及设备 [P]. 
林剑冰 .
中国专利 :CN114066835A ,2022-02-18
[8]
光学中心检测方法及检测装置、校正方法 [P]. 
王军 .
中国专利 :CN108318224A ,2018-07-24
[9]
光学检测设备及光学检测方法 [P]. 
雷纳·米利希 ;
弗拉基米尔·普拉卡朋加 .
中国专利 :CN103339496A ,2013-10-02
[10]
光学检测设备及光学检测方法 [P]. 
邹嘉骏 ;
江宏伟 ;
赖宪平 .
中国专利 :CN109799236A ,2019-05-24
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