光学中心检测方法及检测装置、校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810029260.X

申请日：

2018-01-12

公开(公告)号：

CN108318224A

公开(公告)日：

2018-07-24

发明(设计)人：

王军

申请人：

申请人地址：

516600 广东省汕尾市市区工业大道信利工业城一区第15栋

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

李婷婷;王宝筠

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20180112
2018-07-24	公开	公开
2021-01-22	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M 11/02 申请公布日:20180724

共 50 条

[1]

光学中心检测方法、校正方法及相关装置 [P].

林华苗 ;

李建华 .

中国专利 :CN105976363A ,2016-09-28

[2]

光学检测装置以及校正方法 [P].

刘育鑫 ;

詹凱劭 ;

薛名凱 .

中国专利 :CN111323369A ,2020-06-23

[3]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

杨善 ;

龚士勋 ;

黄彦桦 .

中国专利 :CN119845149A ,2025-04-18

[4]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

[5]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

王珂 .

中国专利 :CN109916597A ,2019-06-21

[6]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

张凌宇 .

中国专利 :CN109901314A ,2019-06-18

[7]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

周上杰 ;

江雅雯 .

中国专利 :CN101487934B ,2009-07-22

[8]

用于光学检测装置的校正方法 [P].

郑文玮 ;

郑国渊 ;

王柏翔 .

中国专利 :CN104713584A ,2015-06-17

[9]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

美国专利 :CN111323386B ,2024-04-19

[10]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

H·范德布洛克 .

中国专利 :CN113702949A ,2021-11-26

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