光学中心检测方法、校正方法及相关装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610278248.3

申请日：

2016-04-29

公开(公告)号：

CN105976363A

公开(公告)日：

2016-09-28

发明(设计)人：

林华苗李建华

申请人：

申请人地址：

516600 广东省汕尾市市区工业大道信利工业城一区第15栋

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

王宝筠

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101684683879 IPC(主分类):G06T 7/00 专利申请号:2016102782483 申请日:20160429
2020-05-08	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06T 7/00 申请公布日:20160928
2016-09-28	公开	公开

共 50 条

[1]

光学中心检测方法及检测装置、校正方法 [P].

王军 .

中国专利 :CN108318224A ,2018-07-24

[2]

光学检测装置以及校正方法 [P].

刘育鑫 ;

詹凱劭 ;

薛名凱 .

中国专利 :CN111323369A ,2020-06-23

[3]

偏差检测方法、校正方法、光学检测设备及存储介质 [P].

陈鲁 ;

欧阳鑫川 ;

吕肃 .

中国专利 :CN120043469A ,2025-05-27

[4]

亮度校正方法及光学检测系统 [P].

刘昌明 .

中国专利 :CN106289521B ,2017-01-04

[5]

用于光学检测装置的校正方法 [P].

郑文玮 ;

郑国渊 ;

王柏翔 .

中国专利 :CN104713584A ,2015-06-17

[6]

表面缺陷光学检测方法及相关装置 [P].

王星泽 ;

祝毅博 ;

何良雨 .

中国专利 :CN111316086A ,2020-06-19

[7]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

杨善 ;

龚士勋 ;

黄彦桦 .

中国专利 :CN119845149A ,2025-04-18

[8]

光学检测方法及光学检测装置 [P].

安浦雅人 ;

藤卷真 ;

芦叶裕树 ;

岛隆之 .

中国专利 :CN109154561B ,2019-01-04

[9]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

王珂 .

中国专利 :CN109916597A ,2019-06-21

[10]

光学检测装置及光学检测方法 [P].

张凌宇 .

中国专利 :CN109901314A ,2019-06-18

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